DERS TANITIM ve UYGULAMA BİLGİLERİ

Dersin Adı Kodu Yarıyıl T+U+L (saat/hafta) Türü (Z / S) Yerel Kredi AKTS
Elektronik I EEE 303 Güz 03+00+02 Zorunlu 4 5
Akademik Birim: Elektrik-Elektronik Mühendisliği
Öğrenim Türü: Örgün Eğitim
Ön Koşullar -
Öğrenim Dili: İngilizce
Dersin Düzeyi: Lisans
Dersin Koordinatörü: Arif Selçuk ÖĞRENCİ
Dersin Amacı: Yarı iletken devre elemanlarının yapısını, işleyişini ve alçak frekanslardaki özelliklerini öğrenerek, analog ve sayısal elektronik devrelerin analiz ve tasarımı için bir temel sağlamak.
Elektronik devrelerin kurulum ve testini yaparak uygulama tecrübesi kazandırmak.
Dersin İçeriği: Yarı iletken fiziği; yarı iletken elemanlar: diyot, transistörler (BJT, JFET, MOSFET) yarı iletken elemanların yapıları, DC özellikleri ve kullanımı; BJT ve FET yükselticiler.

Modül projeleri: Diyotlar ve Uygulamaları, Bipolar Tranzistörler, Bipolar Tranzistörlü Kuvvetlendirici, Bipolar Tranzistörlü Kuvvetlendirici Tasarımı, Alan Etkili Tranzistörler.
Dersin Öğrenme Çıktıları (ÖÇ):
  • 1- Diyot, çift kutuplu transistör ve alan etkili transistörlerin yapısını ve işleyiş prensiplerini açıklayabilme becerisi.
  • 2- Diyot, BJT ve FET içeren devrelerin DC ve düşük frekans AC analizini yapabilme becerisi.
  • 3- Güç kaynağı için düzeltici, filtre ve regülasyon devrelerini ve çok katlı yükseltici tasarlama becerisi.
  • 4- Temel eleman özelliklerinin (DC) elde edilmesi için katalog kullanabilme becerisi.
  • 5- Analiz ve tasarım amacıyla, şema çizim ve devre benzetimi yazılımını (DC ve zaman benzetimi) etkin kullanabilme becerisi.
  • 6- Elektronik devrelerin kurulumu, ölçüm cihazlarıyla devre özelliklerinin ölçümü ve devrede sorun giderme becerisi.
  • 7- Elektronik devrelerdeki teorik hesap, benzetim ve ölçüm sonuçlarını karşılaştırmalı olarak değerlendirme ve aralarındaki farkların sebeplerini proje raporunda açıklama becerisi.
Dersin Öğrenme Yöntem ve Teknikleri Ders, kendi başına öğrenme çalıştayları, benzetim çalışmaları, laboratuvar çalışmaları ve ölçümleri, proje çalışması


HAFTALIK PROGRAM

HaftaKonularÖn Hazırlık
1 Devre analizi. Yarıiletken malzemeler ve p-n eklemi. Ölçüm cihazları. Projeler hakkında bilgi Ders kitabı Bölüm 1, sayfa 1-41
2 Diyotlar: Teknik katalog, benzetim, özelliklerinin ölçülmesi
3 Diyot devrelerinin analizi ve tasarımı (doğrultucu, kırpıcı, kaydırma devreleri): tasarım, benzetim, uygulamalı devre kurulumu ve ölçümler Ders kitabı Bölüm 2, sayfa 49-85
4 Zener diyot ve güç kaynakları LAB: tasarım, benzetim, uygulamalı devre kurulumu ve ölçümler
5 Proje (Zenerli güç kaynağı): sunum, benzetim, çalıştırma
6 BJT (Bipolar transistör) ve MOS (Metal-Oxide-Semiconductor) yapısı ve özellikleri. Teknik katalog, benzetim, özelliklerinin ölçülmesi Ders kitabı Bölüm 3, sayfa 97-130
Ders kitabı Bölüm 5, sayfa 243-282
7 BJT ve MOS devrelerinin DC analizi: tasarım, benzetim, uygulamalı devre kurulumu ve ölçümler
8 BJT ve MOS devrelerinin kutuplaması: tasarım, benzetim, uygulamalı devre kurulumu ve ölçümler Ders kitabı Bölüm 3, sayfa 131-150
Ders kitabı Bölüm 5, sayfa 243-282
9 Proje (Kutuplama hassasiyeti): sunum, benzetim, çalıştırma
10 BJT/MOS yükselticilerin analizi ve tasarımı (CE/CS): tasarım, benzetim, uygulamalı devre kurulumu ve ölçümler Ders kitabı Bölüm 4, sayfa 163-204
Ders kitabı Bölüm 6, sayfa 313-370
11 Çok katlı yükselticilerin analizi ve tasarımı (CC/CD, CB/CG): tasarım, benzetim, uygulamalı devre kurulumu ve ölçümler
12 BJT ve MOS devrelerinin kutuplaması: tasarım, benzetim, uygulamalı devre kurulumu ve ölçümler
13 Proje (Çok katlı yükseltici): sunum, benzetim, çalıştırma.
14 Gözden geçirme


ZORUNLU ve ÖNERİLEN OKUMALAR

Electronic Circuit Analysis and Design, 0071181768, D. A. Neamen, McGraw-Hill, (new edition: Microelectronics Circuit Analysis and Design 4. th ed. 9780073380643 / 0073380644)


DİĞER KAYNAKLAR

Elecronic Devices and Circuit Theory, R.L. Boylestad, L. Nashelsky, Prentice Hall, 2009, 013769282X, KHÜ: TK7867 .B695 2009

Electronic Circuit Analysis [electronic resource] B. V. Rao, 2012 XX(284434.1)

Introductory Electronic Devices and Circuits, M. Hassul, D.E. Zimmerman, Prentice Hall, 1997, 0135008697 KHÜ: TK7867 .H367 1997

Microelectronic Devices and Circuits, C. Fonstad, McGraw-Hill, 1994, 0070214964 KHÜ: TK7874 .F645 1994

Microelectronic Circuits, A.S. Sedra, K.C. Smith, Oxford, 1998 KHÜ: TK7867 .S39 1998


DEĞERLENDİRME SİSTEMİ

Yarıyıl İçi ÇalışmalarıSayıKatkı Payı (%)
Katılım 13 15
Final Sınavı 1 25
Sınıf İçi Uygulama Raporları 3 15
Proje Raporları 3 15
Proje Sunumları (Öğretim Elemanı tarafından değerlendirilme) 3 15
Proje Sunumları (Akranlar tarafından değerlendirilme) 3 15
Total: 26 100


İŞ YÜKÜ HESAPLAMASI

EtkinliklerSayısıSüresi (saat)Toplam İş Yükü (saat)
Final Sınavı11919
Öğretim Elemanlarının Etkin Olduğu Sınıf İçi Çalışmalar14114
Öğrencilerin Etkin Olduğu Sınıf İçi Çalışmalar11444
Öğrencilerin Etkin olduğu Sınıf Dışı Çalışmalar31236
Proje Raporlarının Sunumu3412
Toplam İş Yükü (saat):125


PROGRAM YETERLİLİKLERİ (PY) ve ÖĞRENME ÇIKTILARI (ÖÇ) İLİŞKİSİ

# PY1 PY2 PY3 PY4 PY5 PY6 PY7 PY8 PY9 PY10 PY11
OC1 3                    
OC2 3 3                  
OC3   3 3                
OC4   2   2              
OC5       3              
OC6       3 3            
OC7         3   3