| Akademik Birim: |
Lisansüstü Eğitim Enstitüsü Malzeme Bilimi ve Nanoteknolojide Yüksek Lisans (Disiplinlerarası) (Tezli) |
| Öğrenim Türü: |
Örgün Eğitim |
| Ön Koşullar |
Yok |
| Öğrenim Dili: |
İngilizce |
| Dersin Düzeyi: |
Yüksek Lisans |
| Dersin Koordinatörü: |
Bengü ÖZUĞUR UYSAL |
| Dersi Veren(ler): |
Bengü ÖZUĞUR UYSAL, EMRE OZAN POLAT |
| Dersin Amacı: |
Bu ileri seviye dersin amacı, çeşitli malzeme karakterizasyon teknikleri hakkında kavramlar sağlamak ve öğrencilerin araştırmalarına uygun malzeme analizi ve karakterizasyon yöntemlerini seçmelerine olanak sağlamaktır. |
| Dersin İçeriği: |
Bu ders öğrencilerin malzeme karakterizasyonu için kullanılan temel yöntemleri anlamalarına yardımcı olacaktır. Öğrenciler; dedektörler ve amplifikatörler, optik spektroskopi, elektron ve taramalı prob mikroskopisi, X-ışını kırınımı, floresan ve spektroskopik yöntemler, yüzey analiz tekniklerinin ilke ve uygulamalarını öğreneceklerdir; malzeme araştırmalarının geniş alanındaki bilgileri kullanabileceklerdir. Dersin sonunda öğrenciler, her bir özel malzeme türünü karakterize etmek için uygun yöntemleri seçebilecek ve bu tekniklerle elde edilen verileri işleyip analiz edebilecektir. |
| Dersin Öğrenme Çıktıları (ÖÇ): |
- 1- Mikroskopi, mikroanaliz ve kırınım teknikleri, yüzey ve spektroskopi analizlerine dayalı malzemelerin karakterizasyonu için önemli yöntemleri öğrenmek.
- 2- Enstrümantasyon, numune hazırlama dahil her tekniğin temellerini anlamak.
- 3- İncelenen sistemin performansına göre uygun malzeme seçimi ve malzeme karakterizasyon tekniklerini kullanarak yeni malzemelerin geliştirilmesi hakkında bilgi sahibi olmak.
|
| Dersin Öğrenme Yöntem ve Teknikleri |
Dersler, Ödevler, Projeler, Dönem Ödevi Sunumu, Sınavlar |
| Hafta | Konular | Ön Hazırlık |
| 1 |
Kafes parametreleri, Yapı analizi, Faz tanımlama, X-ışını kırınımı (XRD), Scherrer formülü kullanılarak kristal boyut analizi |
İlgili materyalin okunması |
| 2 |
X-ışını fotoelektron spektroskopisi (XPS), X-ışını floresansı (XRF), Enerji dağılımlı X-ışını analizi (EDAX). |
İlgili materyalin okunması |
| 3 |
İleri Yüzey Görüntüleme (Mikroskopi) Teknikleri |
İlgili materyalin okunması |
| 4 |
Geçirimli elektron mikroskobu (TEM), Yüksek çözünürlüklü geçirimli elektron mikroskobu (HRTEM). |
İlgili materyalin okunması |
| 5 |
Atomik kuvvet mikroskobu (AFM), Taramalı tünelleme mikroskobu (STM), |
İlgili materyalin okunması |
| 6 |
Alan emisyon taramalı elektron mikroskobu (FESEM), Enerji dağılımlı spektroskopi (EDS) |
İlgili materyalin okunması |
| 7 |
Arasınav |
Yazılı ve sözlü sınav hazırlığı |
| 8 |
Termal analiz: Diferansiyel termal analiz (DTA), Diferansiyel Taramalı Kalorimetri (DSC), Termogravimetrik analiz (TGA) |
İlgili materyalin okunması |
| 9 |
Spektroskopik Teknikler: Ultraviyole-görünür spektroskopi, Foto-lüminesans spektroskopisi, Fourier transform kızılötesi (FTIR) spektroskopisi |
İlgili materyalin okunması |
| 10 |
Raman spektroskopisi, Nükleer manyetik rezonans (NMR). |
İlgili materyalin okunması |
| 11 |
Elektriksel Karakterizasyon Teknikleri: 4-prob yöntemi, Hall ölçümü. LCR metre ile dielektrik özellikler |
İlgili materyalin okunması |
| 12 |
Manyetik Karakterizasyon Teknikleri: Manyetik histerezis, Titreşimli numune manyetometresi. |
İlgili materyalin okunması |
| 13 |
Mekanik Karakterizasyon Teknikleri: Sertlik ölçümleri, Çekme testi, Gerilim-gerinim eğrisi |
İlgili materyalin okunması |
| 14 |
Öğrenci Sunumları |
İlgili materyalin okunması |
Kadir Has Üniversitesi'nde bir dönem 14 haftadır, 15. ve 16. hafta sınav haftalarıdır.
